10 - REM_05_Advanced SEM_STEM_WS20_21_Part 2of2 & REM_06_X-ray_Analysis_WS20_21_Part 1of2/ClipID:46460 vorhergehender Clip nächster Clip

Schlüsselworte: Scanning Electron Microscopy
Aufnahme Datum 2023-01-18

Kurs-Verknüpfung

Introduction to Scanning Electron Microscopy WS20/21

Lehrende(r)

Dr.-Ing. Thomas Przybilla

Zugang

IdM-Anmeldung

Sprache

Englisch

Einrichtung

Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

Nächstes Video

11 - REM_06_X-ray_Analysis_WS20_21_Part 2of2
Schloss1
Dr.-Ing. Thomas Przybilla
2023-01-18
IdM-Anmeldung
12 - REM_07_Focused_Ion_Beam_I_Instrumentation_WS20_21_Part 1of2
Schloss1
Dr.-Ing. Thomas Przybilla
2023-01-18
IdM-Anmeldung
13 - REM_07_Focused_Ion_Beam_I_Instrumentation_WS20_21_Part 2of2 & REM_08_Focused_Ion_Beam_II_Practical_Aspects_WS20_21_Part 1of2
Schloss1
Dr.-Ing. Thomas Przybilla
2023-01-18
IdM-Anmeldung
14 - REM_08_Focused_Ion_Beam_II_Practical_Aspects_WS20_21_Part 2of2
Schloss1
Dr.-Ing. Thomas Przybilla
2023-01-18
IdM-Anmeldung
15 - REM_09_in-situ_SEM_WS20_21
Schloss1
Dr.-Ing. Thomas Przybilla
2023-01-18
IdM-Anmeldung

Mehr Videos aus der Kategorie "Technische Fakultät"

9 - Theorie der Programmierung
2024-05-16
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
4 - Handhabungs- und Montagetechnik
2024-05-16
Studon
geschützte Daten  
4 - Grundlagen der Informatik
2024-05-17
Studon
geschützte Daten  
14 - Maschinenelemente II - Vorlesung mit Übung
2024-05-17
Studon
geschützte Daten  
4 - Edges and Corners
2024-05-16
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
4 - Introduction to Software Engineering
2024-05-16
Frei
freie Daten