1 - Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025/ClipID:57283 next clip
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Recording date 2025-04-24
- 4-stündige Vorlesung des „Master of Science“-Studienganges „Elektrotechnik und Informationstechnik“ im Sommersemester (ungerade Jahre)
- Kenntnis und Grundverständnis der grundlegenden Funktionsweise und des prinzipiellen Aufbaus einer Halbleiterchipfabrik und der dafür erforderlichen Schlüsselbegriffe:
-
- „Technologisches Vermögen“ & „Produktivität“,
- „Logistik & Markt“ und
- „Statistische Prozesskontrolle“.
-
- Besonderes Augenmerk wird dabei auf die:
-
- Qualität & Zuverlässigkeit,
- Ausbeute & Ausfall-/ Fehlermechanismen
-
- mikro- und nanoelektronischer Halbleiterchips/ -bauelemente gelegt
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