1 - Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025/ClipID:57283 nächster Clip

Aufnahme Datum 2025-04-24

Zugang

Passwort / Studon

Sprache

Deutsch

Einrichtung

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

  • 4-stündige Vorlesung des „Master of Science“-Studienganges „Elektrotechnik und Informationstechnik“ im Sommersemester (ungerade Jahre)
  • Kenntnis und Grundverständnis der grundlegenden Funktionsweise und des prinzipiellen Aufbaus einer Halbleiterchipfabrik  und der dafür erforderlichen Schlüsselbegriffe:
      • Technologisches Vermögen & Produktivität,
      • Logistik & Markt und
      • Statistische Prozesskontrolle.
  • Besonderes Augenmerk wird dabei auf die:
      • Qualität & Zuverlässigkeit,
      • Ausbeute & Ausfall-/ Fehlermechanismen
  • mikro- und nanoelektronischer Halbleiterchips/ -bauelemente gelegt

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