1 - Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025 [ID:57283]

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Dauer

01:36:46 Min

Aufnahmedatum

2025-04-24

Hochgeladen am

2025-04-24 19:06:04

Sprache

de-DE

4-stündige Vorlesung des „Master of Science“-Studienganges „Elektrotechnik und Informationstechnik“ im Sommersemester (ungerade Jahre)
Kenntnis und Grundverständnis der grundlegenden Funktionsweise und des prinzipiellen Aufbaus einer Halbleiterchipfabrik und der dafür erforderlichen Schlüsselbegriffe:
- - „Technologisches Vermögen“ & „Produktivität“,
  - „Logistik & Markt“ und
  - „Statistische Prozesskontrolle“.
Besonderes Augenmerk wird dabei auf die:
- - Qualität & Zuverlässigkeit,
  - Ausbeute & Ausfall-/ Fehlermechanismen
mikro- und nanoelektronischer Halbleiterchips/ -bauelemente gelegt

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