14 - Asi-Ch-lecture 13 [ID:43405]
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Teil einer Videoserie :
Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Presenters

Prof. Dr. Wolfgang Heiß Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugänglich über

Nur für Portal

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Dauer

01:16:50 Min

Aufnahmedatum

2022-07-13

Hochgeladen am

2022-07-13 21:16:06

Sprache

en-US

lecture from 2022 Ellipsometry

Tags

carrier concentration resistivity, mobility, defect concentration, optical properties