5 - Asi-Ch-lecture5 [ID:32766]
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Teil einer Videoserie :
Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Presenters

Prof. Dr. Wolfgang Heiß Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugänglich über

Nur für Portal

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Dauer

01:27:11 Min

Aufnahmedatum

2021-05-12

Hochgeladen am

2021-05-12 17:56:50

Sprache

en-US

Tags

Defects recombination generation trap states