6 - Asi-Ch-lecture5 [ID:33128]
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Teil einer Videoserie :
Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Presenters

Prof. Dr. Wolfgang Heiß Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugänglich über

Nur für Portal

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Dauer

01:24:21 Min

Aufnahmedatum

2021-05-19

Hochgeladen am

2021-05-19 18:27:43

Sprache

en-US

Defects

Tags

Defects capacitive mesurements DLTS transient capacitance trap density emission coefficient