4 - Optical Near-field Electron Microscopy (ONEM): Damage-free, label-free super-resolution imaging of interfaces [ID:60306]

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Teil einer Videoserie :

Presenters

Prof. Dr. Thomas Juffmann

Zugänglich über

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Dauer

00:58:31 Min

Aufnahmedatum

2025-11-26

Hochgeladen am

2025-11-27 00:20:19

Sprache

en-US