11 - Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025/ClipID:58148 previous clip next clip

Keywords: Fehleranalyse zuverlässigkeit Halbleitertechnologie
Recording date 2025-06-23

Course

Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025

Lecturer

Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze

Via

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Language

German

Organisational Unit

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Producer

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

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