Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025 /KursID:4243
- Letzter Beitrag vom 2025-07-07
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Schlüsselworte: Fehleranalyse zuverlässigkeit Halbleitertechnologie

Einrichtung

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Aufzeichnungsart

Vorlesungsreihe

Zugang

Passwort / Studon

Sprache

Deutsch

  • 4-stündige Vorlesung des „Master of Science“-Studienganges „Elektrotechnik und Informationstechnik“ im Sommersemester (ungerade Jahre)
  • Kenntnis und Grundverständnis der grundlegenden Funktionsweise und des prinzipiellen Aufbaus einer Halbleiterchipfabrik  und der dafür erforderlichen Schlüsselbegriffe:
      • Technologisches Vermögen & Produktivität,
      • Logistik & Markt und
      • Statistische Prozesskontrolle.
  • Besonderes Augenmerk wird dabei auf die:
      • Qualität & Zuverlässigkeit,
      • Ausbeute & Ausfall-/ Fehlermechanismen
  • mikro- und nanoelektronischer Halbleiterchips/ -bauelemente gelegt

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